產品中心
Product Center桌面式小型探針臺,配套了高精度PID溫度控制器,用戶可以清楚直觀地了解了整體系統(tǒng)相關位置的溫度情況,確保溫度測試的可靠性
高低溫真空探針臺KT-Z160T-RL,用于霍爾效應霍爾效應測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列
小型氣敏探針臺KT-Z4019MRL4T,4探針手動調節(jié),純銀加熱臺,-196℃至350℃(溫控精確±0.5)
微型高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T結構緊湊,適用于各種變溫測試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設計,可通保護氣氛
真空探針臺KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。